AGILENT 5517B — 激光干涉测量仪(精密位移/角度校准设备)

产品简介
该设备是 Agilent(原惠普)推出的高精度激光干涉测量系统,用于纳米级位移和角度的精密测量与校准。型号中 5517 为 Agilent 激光测量系列,B 代表该系列的第二代改进版本。该设备广泛应用于半导体光刻机、精密加工机床、坐标测量机(CMM)等超高精度设备的位置反馈系统校准,是工业计量领域的标杆级产品。5517B 相比前代 5517A 在测量速度、环境补偿算法和接口兼容性方面均有显著提升。

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描述

AGILENT 5517B — 激光干涉测量仪(精密位移/角度校准设备)

技术规格

  • 激光类型:He-Ne 稳频激光器,波长 632.8nm(碘稳频,精度 1ppm)
  • 位移测量分辨率:0.01nm(10 皮米)
  • 位移测量范围:0 至 40 米(使用角锥反射镜时可达 80 米)
  • 角度测量分辨率:0.001 角秒
  • 线性测量精度:±0.05ppm + 0.01nm(在 20°C、标准气压下)
  • 测量速度:最高 4 米/秒(连续测量模式)
  • 采样率:最高 100kHz
  • 环境补偿:内置温度、气压、湿度传感器,自动补偿(Edlén 公式)
  • 激光输出功率:约 1.5mW(Class 2,肉眼安全)
  • 光束直径:约 1.5mm(1/e² 处)
  • 偏振:线偏振,消光比大于 500:1
  • 接口:RS-232、GPIB(IEEE-488)、USB(B 型版本支持)
  • 工作温度:15°C 至 35°C(推荐)
  • 存储温度:-10°C 至 +50°C
  • 供电:100VAC 至 240VAC,50/60Hz,功耗约 50W
  • 尺寸:约 350mm × 280mm × 180mm(主机)
  • 重量:约 8kg(主机)

功能特点

  • 纳米级分辨率,是光刻机和精密机床校准的核心工具
  • 内置完整环境传感器,无需外部气象站即可自动补偿
  • 支持线性测量、角度测量、平面度测量、平行度测量等多种模式
  • 双轴同时测量能力,可同时校准 X 轴和 Y 轴
  • 实时数据输出,支持与 CMM 软件直接对接
  • 内置自校准功能,开机后自动完成光路对准
  • 支持自动分度(Auto-Fringe),大幅提升测量效率
  • 数据可导出为 CSV、TXT 格式,兼容绝大多数计量软件

材质构成

  • 激光管:密封玻璃管,内充 He-Ne 混合气体,阴极采用铝氧化物涂层
  • 光学元件:Zerodur 零膨胀玻璃基底反射镜,镀多层介质膜
  • 干涉仪本体:不锈钢 + 殷钢(Invar)混合结构,热膨胀系数极低
  • 探测器:硅 PIN 光电二极管,响应波长 400nm 至 1100nm
  • 外壳:阳极氧化铝合金,内部填充减震泡棉
  • 线缆:低热膨胀系数同轴电缆

结构特征

  • 主机为箱式结构,前面板设有激光输出口、接收口、环境传感器接口和状态 LED
  • 顶部设有提手,便于搬运
  • 底部设有三个可调脚垫,用于调平
  • 激光输出口配有可旋转光学调整架,支持微调光束方向
  • 前面板 4 个 LED:电源(绿)、测量中(绿闪)、报警(红)、通信(黄)

工作原理
He-Ne 激光器发出的稳定频率激光经分束镜分为参考光束和测量光束。测量光束照射到运动目标上的角锥反射镜后返回,与参考光束在探测器处产生干涉条纹。目标每移动半个波长(316.4nm),干涉条纹变化一个周期。通过计数条纹数并结合分数条纹插值算法,可计算出纳米级位移。环境传感器实时监测温度、气压、湿度,通过 Edlén 公式修正空气折射率对光程的影响,确保测量精度。

安装要求

  • 安装在无振动的光学平台或专用支架上
  • 激光光路中不可有遮挡物,光路长度内需保持清洁
  • 环境温度波动应小于 0.1°C/小时(精密测量时)
  • 激光输出口与角锥反射镜之间距离不超过 40 米(标准配置)
  • 供电需使用稳压电源,电压波动小于 ±1%

使用注意事项

  • 激光为 Class 2,肉眼直视安全,但禁止使用光学仪器直视激光束
  • 光学元件表面禁止触摸,清洁需使用专用无尘布和镜头清洁液
  • 角锥反射镜不可跌落,镜面损伤会直接影响测量精度
  • 搬运时需使用原厂包装箱,避免振动导致光路偏移
  • 长期不用时需每月开机一次,防止激光管老化
  • 废弃激光管需按危险废弃物处理

应用场景

  • 半导体光刻机工作台位置校准
  • 精密 CNC 机床线性轴校准
  • 坐标测量机(CMM)精度验证
  • 精密光学平台位移测量
  • 科研院所纳米级位移研究